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制造商零件编号: | 8V182512IDGGREP |
制造商: | Texas Instruments |
部分说明: | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
无铅状态 / RoHS 状态: | 无铅/符合 RoHS |
库存状况: | 有现货 |
发货地: | Hong Kong |
发货方式: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
类型 | 描述 |
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系列 | - |
包裹 | Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel® |
零件状态 | Active |
逻辑类型 | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
电源电压 | 2.7V ~ 3.6V |
位数 | 18 |
工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | Surface Mount |
包装/箱 | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
供应商设备包 | 64-TSSOP |